Павельчук А. В. и др.

Аннотация:

В монографии представлены результаты разработки теоретических основ, систем математического моделирования и специальных программных комплексов, предназначенных для прогнозирования эффектов полевого воздействия электронных пучков на функциональные диэлектрики при диагностике и модификации их свойств в неравновесных условиях электронного облучения, в частности с использованием аналитических методов растровой электронной микроскопии.